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产品简介:可无损测量钢铁上双涂层(镀锌再镀漆)厚度的手持式仪器
产品型号:PMP10 DUPLEX 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国费希尔X 射线荧光测量系统
产品简介:x 射线荧光测量系统,用于在光滑和压印(包括带有铸模接触面)的轴带生产过程中,进行连续的在线测量和分析
产品型号:RAY 4000 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国费希尔耐用且价廉的X射线荧光测试仪器,可无损测量镀层厚度和进行材料分析
产品简介:耐用且价廉的x射线荧光测试仪器,可无损测量镀层厚度和进行材料分析
产品型号:XUL 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国费希尔X射线金属材料分析仪,进口X射线金属材料分析仪
产品简介:高性能x射线荧光测试仪,配有可编程xy平台和z轴,可自动测量超薄镀层和分析痕量元素。
产品型号:XDV®-SDD 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国MPO涂层测厚仪、两用涂层测厚仪、两用测厚仪价格
产品简介:mpo涂层测厚仪、两用涂层测厚仪、两用测厚仪价格、两用层测厚仪代理是袖珍式仪器,采用磁感应法/电涡流法,简便、快速、无损地在几乎所有金属上(或只在铁/钢上)测量涂层厚度.mpo涂层测厚仪可以准确地和方便地在2个液晶显示器上显示镀层厚度的读数:一块大的位于前部面板,另一块位于上部面板。它独特的符合人类工程学设计的集成于仪器的恒压测量探头允许方便地单手操作,可以进行测量数据统计评估。
产品型号:MP0R 原产地:欧洲 价格: ¥5600
产品名称:费希尔台式电解库仑法测厚仪
产品简介:台式仪器,使用库伦法测量几乎所有金属镀层厚度,无论基材是金属或非金属,无论镀层结构是单镀层还是多镀层。
产品型号:COULOSCOPE® CMS 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:费希尔高性能X射线荧光测量仪,无损分析仪,贵金属分析仪
产品简介:高性能x射线荧光测量仪,配有最先进的硅漂移探测器(sdd),可快速、无损地进行rohs检测、材料分析和镀层厚度测量。
产品型号:X-RAY XAN® 250/252 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国菲希尔MPOR-FP
产品简介:德国菲希尔mpor-fp系列涂层测厚仪带有固定连接的电缆探头和 pc 接口,用于方便、快速和非破坏性的测量几乎所有金属的涂层厚度。 采用双功能内置式探头,无需更换探头,可自动识别铁基或非铁基材料,并选择相应的测量方式进行精密测量。
产品型号: 原产地:中国大陆 价格:面议
产品名称:FISCHERSCOPE德国费希尔X射线荧光测量仪 进口镀层厚度测量仪
产品简介:高性能x射线荧光测量仪,配有最先进的硅漂移探测器(sdd),可快速、无损地进行rohs检测、材料分析和镀层厚度测量
产品型号:X-RAY XAN® 250/252 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国费希尔磁感应法/涡流法双用便携测厚仪
产品简介:袖珍式仪器,采用磁感应法/电涡流法,带有固定连接的电缆探头和 pc 接口,用于方便、快速和非破坏性的测量几乎所有金属的涂层厚度
产品型号:MP0R-FP 系列 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国费希尔X射线金属材料分析仪,进口X射线金属材料分析仪
产品简介:x射线荧光测试仪,可在微小样品上,手动或全自动测量印刷线路板、电子元件和大规模生产零部件上的镀层厚度。包括镍层测厚、化镍厚度等。
产品型号:XDLM 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:FISCHERSCOPE德国费希尔X射线荧光光谱分析仪(XULM镀层厚度测量仪)
产品简介:x射线荧光测试仪,可在微小样品上测量镀层厚度(包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等)和进行材料分析
产品型号: 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:FMP10和 FMP20型仪器
产品简介:fmp10和 fmp20型仪器,可以配合所有基于磁感应法和涡流法的探头使用 自动识别探头 自动识别底材 (fmp20) 仪器操作界面友好 usb接口可以连接计算机, 240x160像素高对比度大尺寸显示屏, 开机后即可测量 。
产品型号: 原产地:中国大陆 价格:面议
产品名称:进口X射线荧光测试仪 XDL镀层厚度测量仪 (铬层测厚、铜厚测量)
产品简介:x射线荧光测试仪,可手动或全自动测量功能性镀层(包括铬层测厚、铜厚测量)、防腐蚀镀层和大规模生产零部件
产品型号: 原产地:欧洲 价格:面议
产品简介:x射线荧光测试仪,可在微小样品上,手动或全自动测量印刷线路板、电子元件和大规模生产零部件上的镀层厚度。包括镍层测厚、化镍厚度等。
产品型号:XDLM系列 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国费希尔X射线金属材料分析仪,进口X射线金属材料分析仪
产品简介:x 射线荧光测试仪,带有可编程的 x/y平台和z轴,可自动测量镀层厚度和分析材料组分
产品型号:XDAL 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国费希尔X 射线荧光测试仪 进口X射线荧光分析仪 XDV-u镀层厚度测量仪
产品简介:x 射线荧光测试仪,配有多毛细孔 x 射线光学系统,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。
产品型号:XDV®-μ 原产地:欧洲 价格:面议