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产品简介:日本奥林巴斯olympus ,双晶探头测量模式,从激励脉冲后的精确延时到第*一个回波之间的时间间隔。穿透涂层测量模式,利用单个底面回波(使用d7906-sm和d7908探头),测量金属的实际厚度和涂层厚度。
产品型号: 原产地:中国大陆 价格:面议
产品名称:日本奥林巴斯Olympus Magna-Mike 8600测厚仪
产品简介:日本奥林巴斯olympus magna-mike 8600测厚仪,最小/最大采集模式,以60 hz测量速率进行采集。分辨率0.1 mm、0.01 mm、0.001 mm(取决于厚度范围,存储卡,最大容量:2 gb可插拔microsd存储卡。
产品型号: 原产地:中国大陆 价格:面议
产品名称:美国King A3链式布氏硬度计
产品简介:king a3 链式硬度计由king b1标准测头与king c2链式适配器组成,配置一定长度的链条将工件进行捆绑测试布氏硬度。a3链式布氏硬度计 ,测量时先根据工件直径调整三点支承合适的高度,将硬度计放置在圆柱形工件表面,使压头在被测区域。将链条穿过工件下面后。两端分别挂在适配器两边的挂钩上,为了保证安全,挂链条时最好让出一节。之后通过上部的手轮来锁紧硬度计,使链条张紧在工件表面。
产品型号: 原产地:中国大陆 价格:面议
产品名称:美国King A6加高型布氏硬度计
产品简介:king标准硬度计是由king b1标准测头和king c1标准底座组成的一种可夹持工件并进行液压加载产生压痕的装置。
产品型号: 原产地:中国大陆 价格:面议
产品名称:进口X射线荧光测试仪 XDL镀层厚度测量仪 (铬层测厚、铜厚测量)
产品简介:x射线荧光测试仪,可手动或全自动测量功能性镀层(包括铬层测厚、铜厚测量)、防腐蚀镀层和大规模生产零部件
产品型号: 原产地:欧洲 价格:面议
产品简介:x射线荧光测试仪,可在微小样品上,手动或全自动测量印刷线路板、电子元件和大规模生产零部件上的镀层厚度。包括镍层测厚、化镍厚度等。
产品型号:XDLM系列 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国费希尔X射线金属材料分析仪,进口X射线金属材料分析仪
产品简介:x 射线荧光测试仪,带有可编程的 x/y平台和z轴,可自动测量镀层厚度和分析材料组分
产品型号:XDAL 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国费希尔X 射线荧光测试仪 进口X射线荧光分析仪 XDV-u镀层厚度测量仪
产品简介:x 射线荧光测试仪,配有多毛细孔 x 射线光学系统,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。
产品型号:XDV®-μ 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:MP0R德国菲希尔测厚仪,磁感应法测厚仪,涡流法涂层测厚仪厂家
产品简介:mp0r德国菲希尔测厚仪,磁感应法测厚仪,涡流法涂层测厚仪厂家采用磁感应法/电涡流法,有连接计算机的接口,可简便、快速、无损地在几乎所有金属上测量涂层厚度。
产品型号: 原产地:欧洲 价格: ¥5600
产品名称:德国费希尔FMP30电涡流法涂层测量仪 FMP40进口手持涂层厚度测量仪
产品简介:方便的手持仪器,用于对几乎所有金属上的涂层进行非破坏性的涂层厚度测量。
产品型号: 原产地:欧洲 价格:面议
产品简介:手持式仪器,用于非破坏性的测量多种基材上的,包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。
产品型号: 原产地:欧洲 价格:面议
产品简介:测量法对多层涂镀层系统的电位差测试,以及用于金属或非金属基材上所有的金属涂镀层的库仑电量涂镀层厚度测量(单层或多层系统)
产品型号:COULOSCOPE® CMS STEP 原产地:欧洲 价格:面议
产品简介:betascope作为台式仪器mms和mms pc2的测量模块,是根据β背散射法,由不同材料间的差异,来测量涂镀层厚度的,特别适用于测量较薄的有机涂层。
产品型号:BETASCOPE® 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:德国菲希尔铜层手持测厚仪、涂层测厚仪、进口测厚仪、氧化膜测厚仪、线路板涂层测厚仪
产品简介:sr-scope® rmp30-s线路板涂层测厚仪用于测量线路板上铜层厚度的手持式仪器,它无损、快速、精确并且不会受到背面铜层的影响。
产品型号:SR-SCOPE® RMP30-S 原产地:欧洲 价格:面议
产品名称:费希尔微米范围内硬度测量系统
产品简介:硬度测量系统,使用仪器化压入法,根据国际标准iso 14577-1以及标准 astm e 2546,在微米范围内测量马氏硬度hm、维氏硬度、特征弹性性能以及其他材料特性
产品型号:FISCHERSCOPE® HM2000 原产地:欧洲 价格:面议