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M4 TORNADO采用了全新的技术，为各种用户提供了*佳的分析性能和非常方便的操控性。
采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑*小，空间分辨率。
涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得高品质的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。
高强度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合，确保在非常小的照射区域内获得非常高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管，可以根据不同的分析要求，优化激发光谱。
使用XFlash®探测器超高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
采用无标样分析法精确定量分析块状样品，精确分析多层膜样品。
可抽真空的样品室配有自动门，大尺寸的样品室可以放置各种尺寸的样品。通过两个放大倍数可变的摄像系统观察样品（整体观察和分析区域的细致观察），便捷进样功能和自动对焦功能可以进行快速而精确的定位。通过用户编辑的X-Y-Z样品台运行程序可实现重复测量。
电子元器件分析
太阳能电池分析
生物科技分析
颗粒分析
地质样品分析
涂料分析
低合金钢分析
考古分析
样品类型：固体、颗粒、液体、多层膜
样品室尺寸：W×D×H：600×350×260mm
样品台尺寸：W×D：330×170mm
测量气氛：大气/真空，在100秒内准备就绪
样品移动：移动范围 W×D×H：270×240×120mm
移动速度：涡轮增速样品台移动速度可达100mm/s
激发：配多导毛细管聚焦镜的高强度X射线光管
选项：可同时使用不同靶材的双光管
X射线光管参数
靶材：Rh，可选靶材：Mo，Ag，Cu，W
电压：50kV,800μA
光斑大小：小于30μm（对于Mo-K）
滤光片：根据用户要求，*多6块滤光片
探测器：Flash®硅漂移探测器
选项：可*多同时使用3个探测器
探测器参数
有效面积：10mm2，选项：30mm2
能量分辨率：计数率250,000cps时分别优于125eV、135eV
仪器控制：的PC机，Windows XP或Vista操作系统
仪器控制功能：光管参数、滤光片、光学显微镜、样品照明和样品定位的全面控制
光谱评估：谱峰识别、人工和自动背景校正、峰面积计算、对于块状样品和多层膜样品基于标样和无标样模式的定量分析
分布分析：“飞行中”测量模式，HyperMap软件功能
结果显示：定量结果、统计计算、元素分布（线扫描、面分布）
电源要求：110-240V（1P），50/60Hz
尺寸（宽×深×高） 815×680×580mm，130kg
质量和安全：DIN EN ISO 9001:2000认证, CE认证
完全辐射防护系统；辐射剂量＜1μSv/h
更新时间：2024/3/1 8:32:45
